Leo 的筆記本

一個測試會出現很多參數，不過這些參數彼此之間的關連性如何?或是測試的參數與製程的條件有多強的關連性?如果只有兩三個參數，用Excel做是很簡單的，但是如果有20個參數? 嗯…To be or not to be…

JMP裡面有一個Correlation of Y’s可以迅速求得這個答案。

由前篇提到，當進行完工程實驗後，可以用數據的分布圖來表現結果，但照公司的立場，做實驗就是為了要改善，如果要決定哪一種條件需要改善，要改善多少，要如何由實驗資料決定?這裡要介紹的是Contour Plot。

如果一批lot裡面有做工程實驗時，用Fit Y by X也可以用來比較實驗結果。其實一般也是用Excel來做實驗結果的整理。但我個人比較喜歡JMP表現出來的感覺，而且它比Excel稍微簡單一點。

現在這裡有四個實驗樣本，每個樣本有25筆數據。要做出NMOS跟PMOS的相對關係，按照一般的做法，會得到下面的圖形。

前篇提到Fit Y by X這個功能，當然接下來就是要提到雙參數間的關係。其實在Excel上，也有這個功能。

這裡用最簡單的檔案，有X-Y兩個參數，共有25筆。之所以特別標起來是因為等下會有變化。接著畫圖。

其實，JMP的功能，園區很多公司在自己的資訊系統上都有，包括我上一家公司，大概是客戶會順便用到。不過，JMP的好處是，只要PC就可以完成，不必受限於伺服器的運作狀況。

前篇提到用Control Chart來做單一參數的比較，這次是用正統的Fit Y by X來做比較。當一批lot有些良率OK，有些不好，就可以用這種方法來比較。按鍵如下所示。

這個功能，應該算是我最常用的。使用的時機，通常是在一批或是幾批貨裡面，有幾片出現了問題， 透過這種方法，來找出哪裡有問題。

因為如果是某個製程上有問題，跟那個製程相關的電性參數其實也會異常。出來的圖形就會像下面這個樣子，很直覺就可以看出來哪裡不一樣。

這裡的輸出，指的是把結果放在報告上面。相對於Excel來說，JMP在繪圖功能是滿方便的，比如說我有一個工程實驗，要比較各種條件的實驗結果，當WAT參數有10個以上的時候，用Excel就要花好幾次畫圖，而JMP只要一次就可以完成。

我在學習JMP最難的一關，其實就是資料輸入。因為沒有資料，其他都是白搭。下面的方法，是我用試誤法(try & error)試出來的。

就資料格式來說 ，JMP3是可以讀取*.txt，即便我有時會用到*.txt 的資料檔案，我還是會用Excel 先處理一下。這裡所謂的處理，其實跟我用的數值資料有關。

我要離開現在的公司。雖然還不知道下個職位在哪裡，也不知道會不會繼續用到JMP ，不過還是把一些基本的東西寫下來，算是對這些日子的紀念。

這裡用到的是JMP 3.0，大概只會記載一些基本的東西，不會提到DOE等較複雜的應用。

在關於JMP的文章中，有不少流量是來自於高雄醫學大學的WIKI。

這裡的COMMENT 跟我的文章好像有點出入，我記得我在文章說的是

JMP是我們經理叫我學的，大概是看到我常常寫一些軟體應用的緣故。

不過我們公司用的還是 3.0版，在出這套軟體的 JMP的官方網站上 ，目前已經出到第七版。加上這套軟體在網路上的資料不多，我花了好大的工夫才稍微學會操作。

當時我覺得很奇怪，明明就有 EXCEL可以用，為何還特別要學這個 JMP？但是用了之後才發現它的好處。