Leo 的筆記本

如果一批lot裡面有做工程實驗時，用Fit Y by X也可以用來比較實驗結果。其實一般也是用Excel來做實驗結果的整理。但我個人比較喜歡JMP表現出來的感覺，而且它比Excel稍微簡單一點。

現在這裡有四個實驗樣本，每個樣本有25筆數據。要做出NMOS跟PMOS的相對關係，按照一般的做法，會得到下面的圖形。

我在前面提過，JMP所完成的圖形，大多是單色。這裡使用Nonpar Density來畫圖，我是用這個來表現NMOS跟PMOS兩者之間的分布關係。

得出來的圖形如下。這是全部的資料的分布圖狀況。

JMP會將這些數據分類為10份，依據出現的機率加以上色。像標為紅色的0.9，就表示有90%的數據都在紅色的圈外面。簡單的說，這就是可以看到數據的分布關係。

當然，如果這樣就把報告交出去一定會被K，還要將數據跟實驗狀況做一個結合。這裡要用到的是Grouping Variable。這裡用的是Wafer。

選完後要再做一次Nonpar Density，如果沒選到，就會跟上一張圖一樣。

出來變成這樣，多了wafer 的分類。

當然這樣交出去還是會被唸，所以只好用人工將各wafer分開。但最後的結果是很棒的!

Excel也是可以做到把各實驗條件的數據單獨呈現出來，但因為Excel很聰明，會依照數據的範圍，自動決定座標軸的大小，所以很多時候都要改來改去，如果沒改到還會被笑，我因為這樣被笑過一次。用JMP的這種作法，座標軸會是一樣的。而且，可以檢視數據的分布狀況。我認為如果分布的圖形很奇怪，像WAFER #1 & #4，或許會隱藏不均勻的現象在裡面，可以在第一時間去找其他的資料來佐證。

如果要做成傳統的線性圖形，也是可以的，作法就不另外介紹了。

最後，附上這個圖形的介紹，來源是JMP的官方資料。